Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів
2

FIB Preparation for HRTEM: GaN Based Devices

Рік:
2004
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.03 MB
english, 2004
4

Quantitative atomic 3-D imaging of single/double sheet graphene structure

Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.66 MB
english, 2011
7

Alteration of n C 60 in the Presence of Environmentally Relevant Carboxylates

Рік:
2012
Мова:
english
Файл:
PDF, 2.67 MB
english, 2012
8

Corrigendum: ‘Big Bang’ tomography as a new route to atomic-resolution electron tomography

Рік:
2012
Мова:
english
Файл:
PDF, 27 KB
english, 2012
20

B12-O-04Controlling experimental conditions in advanced in-situ S/TEM experiments

Рік:
2015
Мова:
english
Файл:
PDF, 715 KB
english, 2015
21

Retrieving Potential Maps from Reversed Multislice Calculations

Рік:
2004
Мова:
english
Файл:
PDF, 406 KB
english, 2004
24

Single domain structure of 2H-AlN films on Si(001) substrates

Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 13.17 MB
english, 2001
28

Atomic Scale In Situ Electron Microscopy: Challenges and Opportunities

Рік:
2016
Мова:
english
Файл:
PDF, 259 KB
english, 2016
29

TEM Specimen Preparation for In Situ Heating Experiments Using FIB

Рік:
2017
Мова:
english
Файл:
PDF, 617 KB
english, 2017
30

Spherical Aberration Correction in TEM

Рік:
2013
Файл:
PDF, 1.26 MB
2013
31

Still “Plenty of Room at the Bottom” for Aberration-Corrected TEM

Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 5.54 MB
english, 2011